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    inTEST 閃存 Flash/EMMC 高低溫測試
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    inTEST  閃存 Flash/EMMC 高低溫測試

    上海伯東 inTEST - Temptronic 高低溫循環測試機閃存溫度測試應用
    閃存(Flash Memory),是非揮發性內存的一種,不需電力來維持數據的儲存,可分為 NOR Flash 以及 NAND Flash 兩種,前者用于儲存程序代碼,后者用于儲存數據。閃存應用范圍涵蓋汽車電子、因特網、存儲器、DSL 電纜調制解調器、數字電視、照相手機、藍芽、 GPS、工業電子…等等。
    inTEST 閃存溫度測試應用
    閃存溫度測試原因
    為確保閃存可在極端溫度環境(例如: 油氣探勘、重工業以及航空領域)可正常實現穩健的閃存讀/寫操作功能,因此在出廠前需要進行溫度測試,inTEST - Temptronic ThermoStream 超高速高低溫循環測試機憑借可測試溫度 -100 ℃ 至 +300 ℃,每秒可快速升溫或降溫 18°C,溫度精度 +-1.0℃等優勢廣泛應用于閃存制造行業。上海伯東作為 inTEST 中國地區總代理,全權負責其新品銷售和售后維修服務
    閃存溫度測試方法:
    通過與愛德萬 (Advantest ) 內存 IC 測試系統搭配之下,客戶可直接在極端溫度下測試閃存的運作特性。根據客戶實際要求,上海伯東推薦選用 inTEST ATS-545-M 高低溫循環測試機,并提供兩種溫度操作模式: Air mode 及 DUT mode

    閃存多采用 DUT mode 即 Device under test t模式來進行高低溫循環測式,將閃存與 inTEST ATS-545-M 使用 T type Thermocouple 相互連接,如此即可精確掌控受測物達到機臺所設定之溫度。閃存高低溫測試方法同樣適合內嵌式記憶體eMMC 溫度測試。inTEST-Temptronic thermostream 高低溫測試機可與愛德萬 advantest,泰瑞達 teradyne,惠瑞捷 verigy 工程機聯用,進行芯片高低溫循環測試。更詳細的高低溫測試操作方法歡迎致電 021-5046-3511
    inTEST 閃存溫度測試方法
    inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
    Temptronic 創立于 1970 年,在 2000 年被 inTEST 收購,成為在美國設立的超高速溫度環境測試機的首家制造商。而 Thermonics 創立于1976年,在 2012 年被 inTEST 收購,使 inTEST 更強化高低溫循環測試以及溫度沖擊測試領域的實力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions 用嶄新的研發技術發展出獨創的溫度環境測試機,將 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合進化成 inTEST ThermoStream ATS 超高速溫度環境測試系列產品。上海伯東作為 inTEST 中國總代理,全權負責  inTEST 新品銷售和售后維修服務。

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