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    原子力顯微鏡硅片表面形貌測量
    閱讀數: 1552

    原子力顯微鏡硅片表面形貌測量

    英國 NanoMagnetics 原子力顯微鏡硅片表面形貌測量
    上海伯東代理的英國 NanoMagnetics 原子力顯微鏡硅片表面形貌測量應用, 某高校老師通過原子力顯微鏡進行硅片表面形貌測量和表面粗糙度測量, 便于后續進行拉曼增強.

    測試方法: 選用上海伯東英國 NanoMagnetics 原子力顯微鏡 ezAFM 進行測試. 將樣品放置在樣品臺, 通過系統軟件自動控制.

    原子力顯微鏡測試條件

    原子力顯微鏡 AFM

    圖像參數

    品牌

    英國 NanoMagnetics

    原子力顯微鏡型號

    ezAFM

    模式

    動態模式

    分辨率 ( pixels )

    512 x 512

    懸臂類型

    ACLA from App Nano

    Set RMS

    1.0 VRMS

    Free RMS

    2.0 VRMS


    原子力顯微鏡 ezAFM 性能

    原子力顯微鏡AFM

    掃描范圍

    120 x 120 x 40 μm 或 40 x 40 x 4 μm

    模式

    接觸模式, 動態力 / 相位成像模式, 側向力顯微鏡 LFM 和磁力顯微鏡 MFM 模式

    噪聲基底

    65 fm √Hz

    分辨率

    2μm 集成光學顯微鏡

    全高清攝像機

    390x230μm, 2516x1960, pixels, 30fps,

    樣品尺寸

    10 x 10 x 5mm ( 可配置為不限制樣品尺寸 )


    硅片表面形貌成像圖

    原子力顯微鏡硅片表面形貌成像圖
    硅片表面粗糙度成像圖

    原子力顯微鏡硅片表面粗糙度成像圖

    英國 NanoMagnetics 儀器 1998年在牛津成立, 作為原子力顯微鏡 AFM 制造商, 主營環境掃描探針顯微鏡 SPM, 低溫掃描探針顯微鏡 LT-SPM, 霍爾效應測量系統等, 原子力顯微鏡適用于產品表面特征分析, 生命科學, 原位成像, 材料科學, 薄膜等領域.廣泛應用于牛津大學, 斯坦福, 京都大學, NASA 等學府和科研院所.
     

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